假设磁性元件（如变压器）铜损耗的计算公式为I2·Rdc，式中，Rdc为绕组的直流电阻，它是通过绕组导线长度和绕组单位长度的电阻值（根据选定导线尺寸查表即得）计算出来的。I为电流的有效值。
由于集肤效应和邻近效应的影响，绕组的损耗往往比；I2·Rdc大很多。
绕组中的可变磁场感应产生了涡流，从而导致了集肤效应和邻近效应的产生。集肤效应是由绕组的自感产生的涡流引起的，而邻近效应则是由绕组的互感产生的涡流引起的。
集肤效应使电流只流过导线外部极薄的部分，这一部分的厚度或环形导电面积与频率的平方根成反比。因此，频率越高，导体损失的固态面积就越多，使交流电阻Rac从而增大，使铜损耗大大增加。
在工频情况下，1cm线径以下的导线这种效应甚微，只有在大截面导线时才应适当地加以注意。 ｜
一般PWM开关转换器，其开关频率在10≈100 kHz以上，甚至有时高达千赫或更高，因此在选择电流密度或导线线径时，必须考虑由于集肤效应引起的有效导电截面积的减小。
本节将介绍集肤效应的原理及其定量分析。
邻近效应引起的铜损耗比集肽效应更大。磁性元件多层绕组的邻近效应损耗是很大的，其中部分原因是感应的涡流迫使净电流只流经导线截面的一小部分，增大了导线的交流电阻Rac，最严重时邻近效应感应的涡流是原来流经绕组或绕组层的净电流幅值的很多倍。